詳細摘要： 用于測試光伏組件，主要是單晶硅組件，地面用晶體硅光伏組件，地面用薄膜光伏組件等一系列的光伏組件進行紫外光加速耐候試驗可以再現(xiàn)陽光所產(chǎn)生的破壞。